测控技术与仪器考研(测控技术与仪器考研方向)

测控技术与仪器考研，测控技术与仪器考研方向

界面介绍

首先将AC220V电源线连接至仪器面板电源插座，打开面板上电源开关，仪器进入开机欢迎画面，系统初始化完成后仪器进入主界面，如图3.1所示。该界面有6个选项，点击图标进入相应子界面。

HD-500全自动电容电桥测试仪系统设置

点击界面上的“系统设置”图标，进入系统设置界面（如图3.2）。在该界面中，进行时间设置和背光设置。

1.时间设置：首先点击相应时间图标，然后点击时间设置栏右边的“+”或“-”，时间修改完成后，点击“设置”图标，时间设置修改完成。

2.背光设置：点击背光设置栏右边界面上的“+”或“-”，即可完成背光设置，屏幕同步显示修改后的背光亮度。

HD-500全自动电容电桥测试仪指标

1.电容测量范围及精度

电容测量范围： 0.1μF～3500μF

电容测量精度： ±（读数×1% +0.005μF）

最小分辨率： 0.001μF（四位有效数字）

2.电感、电阻测量范围及精度

电感测量范围： 100μH～20H

电阻测量范围： 10mΩ～20kΩ

测量精度： ±读数×2%

3.电流测量范围及精度

电流测量范围： AC 10mA～50A，30～150Hz

电流测量精度： ±读数×1%

4.电压测量范围： AC 0V～30V

图3.1主界面

图3.2　系统设置界面

测量设置

进行电容测试之前，用户需要根据被试品参数设置相应的测量参数，点击主界面中的“测量设置”图标进入测量设置界面（如图3.3）。在此界面，包含“设置电压等级”、“添加电压等级”、“设置等效方式”和“系统信息”四个标题栏。

1.设置电压等级：点击“《”或“》”按钮选择需要的电压等级，同时“系统信息”栏中会相应提示“切换电压等级完成”。点击“设置”按钮完成设置，同时“系统信息”栏中会相应提示“设置电压等级成功”。“当前/总数”显示当前选定的电压等级在总的电压等级数中的排序号。点击“删除”即删除当前选定的电压等级，同时“系统信息”栏中会相应提示“删除成功”。如无需要的电压等级值，用户可在“添加电压等级”栏添加所需要的电压等级，在“请输入”选项框中输入需要的电压等级值，点击“添加”按钮即可完成，同时“系统信息”栏中会相应提示“添加自定义电压等级成功！”。

2.设置等效方式：系统默认的等效方式为“串联方式”。如当前显示的等效方式为“串联方式”，点击后系统自动切换到“并联方式，如当前显示的等效方式为“并联方式”，点击后系统自动切换到“串联方式”，同时“系统信息”栏中会相应显示当前选定的等效方式。点击“设置”按钮完成设置，同时“系统信息”栏中会相应提示“设置等效方式成功”。

图3.3　测量设置界面

电容测量

主界面中点击“电容测量”图标即可进入电容测试界面，点击屏幕上方选项卡可以选择Y型、Yn型、△型、Ⅲ型，下面以测试一个Yn型电容器为例。

首先在界面中点击“Yn型”选项，界面自动切换到Yn型电容测试界面，如图3.4所示。

图3.4　电容测试界面

确定接线无误后，点击“测量”按钮仪器将自动完成A相的测量（如图3.5）。

图3.5　A相测量数据

手动更换B相后，点击“测量”按钮，仪器自动完成B相的测量（如图3.6），再手动更换C相后，点击“测量”按钮，仪器自动完成C相测量，测量完成后如图3.7所示，“信息”栏中会提示“电容3种相别测试完毕，继续测试或更换网络测试”，同时界面出现“保存”按钮，此时一个Yn型的电容器组测试完成，点击“保存”按钮保存测试数据，以备事后查询。测试完成后，点击“测量”将开始下一组测试，点击“返回”按钮返回主界面。

图3.6　B相测量数据

图3.7　C相测量数据

注意：1.每相测量完成后，需人工更换测量接线。

2.每组测量过程中，禁止返回“测量设置”界面，更改测量设置参数，否则将无法保存本组测量数据。

数据查询

仪器最大保存400组测试数据，用户在主界面中，点击“数据查询”图标进入数据查询界面查看保存的历史测量数据（如图3.10）。

图3.10　数据查询

点击屏幕上的数据日期即可选择需要查看的数据，日期前的“√”表示该条数据被选中，点击“查看数据”即可查询被选中的历史数据，数据查看界面与电容测量数据界面相同。

图3.10右边信息栏解释：

1.数据查询界面电容数据以保存时间排序，先保存者排在前面。

2.“当前页/总页”：“当前页”指数据查询左边显示的信息页在总页码数中的排序号，“总页”指总页码数。

3.“当前数/总数”：“当前数”指当前选定的电容数据在总数据中的排序号，“总数”指总的电容数据。

4.“全部删除”：点击“全部删除”将删除所有已保存的数据。

数据通信

通信连接线连接好后，打开仪器电源，待仪器进入图3.1所示主界面后，点击“数据通信”后，进入通信界面（如图3.11）。通过上位机查询保存的历史测量数据或对数据做进一步的分析梳理，具体操作请看“第四章 上位机软件”。

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